master's thesis
Tomaž Mlakar (Avtor), Stefan Heun (Mentor)

Povzetek

Conductive atomic force microscopy investigations of quantum dots and quantum rings

Ključne besede

kvantne pike;kvantni obroči;mikroskop na atomsko silo;modeliranje prevodnosti;metoda prenosnih matrik;magistrske naloge;

Podatki

Jezik: Angleški jezik
Leto izida:
Izvor: Nova Gorica
Tipologija: 2.09 - Magistrsko delo
Organizacija: UNG FPŠ - Fakulteta za podiplomski študij
Založnik: [T. Mlakar]
UDK: 538.9
COBISS: 2043131 Povezava se bo odprla v novem oknu
Št. ogledov: 5183
Št. prenosov: 375
Ocena: 0 (0 glasov)
Metapodatki: JSON JSON-RDF JSON-LD TURTLE N-TRIPLES XML RDFA MICRODATA DC-XML DC-RDF RDF

Ostali podatki

Sekundarni jezik: Slovenski jezik
Sekundarne ključne besede: kvantne pike;kvantni obroči;mikroskop na atomsko silo;modeliranje prevodnosti;metoda prenosnih matrik;magistrske naloge;
URN: URN:SI:UNG
Vrsta dela (COBISS): Magistrsko delo
Komentar na gradivo: Univ. v Novi Gorici, Fak. za podiplomski študij
Strani: II, 58 str.
Ključne besede (UDK): mathematics;natural sciences;naravoslovne vede;matematika;physics;fizika;condensed matter physics;solid state physics;fizika kondenzirane snovi;fizika trdne snovi;
ID: 63559