| Language: | English |
|---|---|
| Year of publishing: | 2012 |
| Typology: | 1.01 - Original Scientific Article |
| Organization: | UM FKKT - Faculty of Chemistry and Chemical Engineering |
| UDC: | 66 |
| COBISS: |
16265238
|
| ISSN: | 1318-0207 |
| Views: | 975 |
| Downloads: | 71 |
| Average score: | 0 (0 votes) |
| Metadata: |
|
| Secondary language: | Slovenian |
|---|---|
| Secondary abstract: | Struktura porozne plasti aluminijevega oksida, ki predstavlja t.i. tiska prosto površino ima pomemben vpliv na kvaliteto tiska. Delo predstavlja uporabo impedančne spektroskopije (EIS) v namene detekcije strukturnih sprememb povzročenih pri kemijski obdelavi površine v močno alkalni raztopini. Strukturne spremembe plasti aluminijevega oksida, nastale v procesu delovanja razvojnega medija na površino smo razložili še z uporabo SEM, fraktalne analize in merjenjem površinske energije. Analize so pokazale, da ima proces kemijske obdelave tiskarske plošče bistven vpliv na končno kvaliteto le-te. S pomočjo EIS lahko uspešno predvidimo spremembe v plasti aluminijevega oksida. Uporabili smo dva različna tipa nadomestnega električnega vezja. Na osnovi le-teh smo lahko natančno predvideli optimalni čas razvijanja pri katerem je bil foto-aktivni film odstranjen v celoti. Vse to daje velik pomen uporabi EIS v namene optimizacije kemijskega procesa v postopku priprave litografskih tiskarskih plošč. |
| Secondary keywords: | tiskarska plošča;kemična obdelava;SEM;površinska energija;EIS; |
| URN: | URN:NBN:SI |
| Type (COBISS): | Scientific work |
| Pages: | str. 513-519 |
| Volume: | ǂVol ǂ59 |
| Issue: | ǂno. ǂ3 |
| Chronology: | 2012 |
| ID: | 1439138 |