Language: | English |
---|---|
Year of publishing: | 2012 |
Typology: | 1.01 - Original Scientific Article |
Organization: | UM FKKT - Faculty of Chemistry and Chemical Engineering |
UDC: | 66 |
COBISS: | 16265238 |
ISSN: | 1318-0207 |
Views: | 975 |
Downloads: | 71 |
Average score: | 0 (0 votes) |
Metadata: |
Secondary language: | Slovenian |
---|---|
Secondary abstract: | Struktura porozne plasti aluminijevega oksida, ki predstavlja t.i. tiska prosto površino ima pomemben vpliv na kvaliteto tiska. Delo predstavlja uporabo impedančne spektroskopije (EIS) v namene detekcije strukturnih sprememb povzročenih pri kemijski obdelavi površine v močno alkalni raztopini. Strukturne spremembe plasti aluminijevega oksida, nastale v procesu delovanja razvojnega medija na površino smo razložili še z uporabo SEM, fraktalne analize in merjenjem površinske energije. Analize so pokazale, da ima proces kemijske obdelave tiskarske plošče bistven vpliv na končno kvaliteto le-te. S pomočjo EIS lahko uspešno predvidimo spremembe v plasti aluminijevega oksida. Uporabili smo dva različna tipa nadomestnega električnega vezja. Na osnovi le-teh smo lahko natančno predvideli optimalni čas razvijanja pri katerem je bil foto-aktivni film odstranjen v celoti. Vse to daje velik pomen uporabi EIS v namene optimizacije kemijskega procesa v postopku priprave litografskih tiskarskih plošč. |
Secondary keywords: | tiskarska plošča;kemična obdelava;SEM;površinska energija;EIS; |
URN: | URN:NBN:SI |
Type (COBISS): | Scientific work |
Pages: | str. 513-519 |
Volume: | ǂVol ǂ59 |
Issue: | ǂno. ǂ3 |
Chronology: | 2012 |
ID: | 1439138 |