Jezik: | Angleški jezik |
---|---|
Leto izida: | 2012 |
Tipologija: | 1.01 - Izvirni znanstveni članek |
Organizacija: | UM FKKT - Fakulteta za kemijo in kemijsko tehnologijo |
UDK: | 66 |
COBISS: | 16265238 |
ISSN: | 1318-0207 |
Št. ogledov: | 975 |
Št. prenosov: | 71 |
Ocena: | 0 (0 glasov) |
Metapodatki: |
Sekundarni jezik: | Slovenski jezik |
---|---|
Sekundarni povzetek: | Struktura porozne plasti aluminijevega oksida, ki predstavlja t.i. tiska prosto površino ima pomemben vpliv na kvaliteto tiska. Delo predstavlja uporabo impedančne spektroskopije (EIS) v namene detekcije strukturnih sprememb povzročenih pri kemijski obdelavi površine v močno alkalni raztopini. Strukturne spremembe plasti aluminijevega oksida, nastale v procesu delovanja razvojnega medija na površino smo razložili še z uporabo SEM, fraktalne analize in merjenjem površinske energije. Analize so pokazale, da ima proces kemijske obdelave tiskarske plošče bistven vpliv na končno kvaliteto le-te. S pomočjo EIS lahko uspešno predvidimo spremembe v plasti aluminijevega oksida. Uporabili smo dva različna tipa nadomestnega električnega vezja. Na osnovi le-teh smo lahko natančno predvideli optimalni čas razvijanja pri katerem je bil foto-aktivni film odstranjen v celoti. Vse to daje velik pomen uporabi EIS v namene optimizacije kemijskega procesa v postopku priprave litografskih tiskarskih plošč. |
Sekundarne ključne besede: | tiskarska plošča;kemična obdelava;SEM;površinska energija;EIS; |
URN: | URN:NBN:SI |
Vrsta dela (COBISS): | Znanstveno delo |
Strani: | str. 513-519 |
Letnik: | ǂVol ǂ59 |
Zvezek: | ǂno. ǂ3 |
Čas izdaje: | 2012 |
ID: | 1439138 |