| Jezik: | Angleški jezik |
|---|---|
| Leto izida: | 2012 |
| Tipologija: | 1.01 - Izvirni znanstveni članek |
| Organizacija: | UM FKKT - Fakulteta za kemijo in kemijsko tehnologijo |
| UDK: | 66 |
| COBISS: |
16265238
|
| ISSN: | 1318-0207 |
| Št. ogledov: | 975 |
| Št. prenosov: | 71 |
| Ocena: | 0 (0 glasov) |
| Metapodatki: |
|
| Sekundarni jezik: | Slovenski jezik |
|---|---|
| Sekundarni povzetek: | Struktura porozne plasti aluminijevega oksida, ki predstavlja t.i. tiska prosto površino ima pomemben vpliv na kvaliteto tiska. Delo predstavlja uporabo impedančne spektroskopije (EIS) v namene detekcije strukturnih sprememb povzročenih pri kemijski obdelavi površine v močno alkalni raztopini. Strukturne spremembe plasti aluminijevega oksida, nastale v procesu delovanja razvojnega medija na površino smo razložili še z uporabo SEM, fraktalne analize in merjenjem površinske energije. Analize so pokazale, da ima proces kemijske obdelave tiskarske plošče bistven vpliv na končno kvaliteto le-te. S pomočjo EIS lahko uspešno predvidimo spremembe v plasti aluminijevega oksida. Uporabili smo dva različna tipa nadomestnega električnega vezja. Na osnovi le-teh smo lahko natančno predvideli optimalni čas razvijanja pri katerem je bil foto-aktivni film odstranjen v celoti. Vse to daje velik pomen uporabi EIS v namene optimizacije kemijskega procesa v postopku priprave litografskih tiskarskih plošč. |
| Sekundarne ključne besede: | tiskarska plošča;kemična obdelava;SEM;površinska energija;EIS; |
| URN: | URN:NBN:SI |
| Vrsta dela (COBISS): | Znanstveno delo |
| Strani: | str. 513-519 |
| Letnik: | ǂVol ǂ59 |
| Zvezek: | ǂno. ǂ3 |
| Čas izdaje: | 2012 |
| ID: | 1439138 |