Matevž Bokalič (Avtor), Andreas Gerber (Avtor), Bart E. Pieters (Avtor), Uwe Rau (Avtor), Marko Topič (Avtor)

Povzetek

Bandgap fluctuations observed by EL in various Cu(In,Ga)(Se,S)[sub]2 PV modules

Ključne besede

CIGS;tankoplastni;sončne celice;karakterizacija;fotonapetostni;elektroluminiscenca;multispektralno slikanje;copper indium gallium selenide;thin film solar cells;characterization of photovoltaic;PV;electroluminescence;multispectral imaging;PV measurement techniques;

Podatki

Jezik: Angleški jezik
Leto izida:
Tipologija: 1.01 - Izvirni znanstveni članek
Organizacija: UL FE - Fakulteta za elektrotehniko
UDK: 621.383.51
COBISS: 11923028 Povezava se bo odprla v novem oknu
ISSN: 2156-3381
Št. ogledov: 910
Št. prenosov: 471
Ocena: 0 (0 glasov)
Metapodatki: JSON JSON-RDF JSON-LD TURTLE N-TRIPLES XML RDFA MICRODATA DC-XML DC-RDF RDF

Ostali podatki

Sekundarni jezik: Slovenski jezik
Sekundarne ključne besede: CIGS;tankoplastni;sončne celice;karakterizacija;fotonapetostni;elektroluminiscenca;multispektralno slikanje;
Vrsta dela (COBISS): Članek v reviji
Strani: str. 272-277
Letnik: ǂVol. ǂ8
Zvezek: ǂno. ǂ1
Čas izdaje: 1 Jan. 2018
DOI: 10.1109/JPHOTOV.2017.2762589
ID: 11046229