Benedikt Rösner (Avtor), Florian Döring (Avtor), Primož Rebernik Ribič (Avtor), David Gauthier (Avtor), Emiliano Principi (Avtor), Claudio Masciovecchio (Avtor), Marco Zangrando (Avtor), Joan Vila-Comamala (Avtor), Giovanni De Ninno (Avtor), Christian David (Avtor)

Povzetek

High resolution beam profiling of X-ray free electron laser radiation by polymer imprint development

Ključne besede

free-electron lasers;metrology;polymers;X-ray optics;

Podatki

Jezik: Angleški jezik
Leto izida:
Tipologija: 1.01 - Izvirni znanstveni članek
Organizacija: UNG - Univerza v Novi Gorici
UDK: 53
COBISS: 5537531 Povezava se bo odprla v novem oknu
ISSN: 1094-4087
Št. ogledov: 2323
Št. prenosov: 0
Ocena: 0 (0 glasov)
Metapodatki: JSON JSON-RDF JSON-LD TURTLE N-TRIPLES XML RDFA MICRODATA DC-XML DC-RDF RDF

Ostali podatki

URN: URN:SI:UNG
Vrsta dela (COBISS): Delo ni kategorizirano
Strani: str. 30686-30695
Letnik: ǂVol. ǂ25
Zvezek: ǂno. ǂ24
Čas izdaje: Nov. 2017
DOI: 10.1364/OE.25.030686
ID: 11369898