Jezik: | Slovenski jezik |
---|---|
Leto izida: | 2011 |
Tipologija: | 1.04 - Strokovni članek |
Organizacija: | UM FS - Fakulteta za strojništvo |
Založnik: | Društvo za vakuumsko tehniko Slovenije |
UDK: | 620.187.2 |
COBISS: | 15158294 |
ISSN: | 0351-9716 |
Matična publikacija: | Vakuumist |
Št. ogledov: | 511 |
Št. prenosov: | 37 |
Ocena: | 0 (0 glasov) |
Metapodatki: |
Sekundarni jezik: | Angleški jezik |
---|---|
Sekundarni naslov: | The environmental scanning electron microscopy (ESEM) |
Sekundarne ključne besede: | environmental scanning electron microscopy;secondary environmental electrons;gaseous detector for secondary electrons;pressure-limiting-aperture; |
URN: | URN:NBN:SI:doc-VZZABVAI |
Vrsta dela (COBISS): | Delo ni kategorizirano |
Strani: | str. 14-19 |
Letnik: | Letn. 31 |
Zvezek: | št. 2 |
Čas izdaje: | jun. 2011 |
ID: | 1727878 |