Tonica Bončina (Avtor)

Povzetek

Elektronska vrstična mikroskopija pri povišanem tlaku (ESEM)

Ključne besede

okoljski vrstični elektronski mikroskop;sekundarni okoljski elektroni;plinski detektor za sekundarne ione;reducirna zaslonka;

Podatki

Jezik: Slovenski jezik
Leto izida:
Tipologija: 1.04 - Strokovni članek
Organizacija: UM FS - Fakulteta za strojništvo
Založnik: Društvo za vakuumsko tehniko Slovenije
UDK: 620.187.2
COBISS: 15158294 Povezava se bo odprla v novem oknu
ISSN: 0351-9716
Matična publikacija: Vakuumist
Št. ogledov: 511
Št. prenosov: 37
Ocena: 0 (0 glasov)
Metapodatki: JSON JSON-RDF JSON-LD TURTLE N-TRIPLES XML RDFA MICRODATA DC-XML DC-RDF RDF

Ostali podatki

Sekundarni jezik: Angleški jezik
Sekundarni naslov: The environmental scanning electron microscopy (ESEM)
Sekundarne ključne besede: environmental scanning electron microscopy;secondary environmental electrons;gaseous detector for secondary electrons;pressure-limiting-aperture;
URN: URN:NBN:SI:doc-VZZABVAI
Vrsta dela (COBISS): Delo ni kategorizirano
Strani: str. 14-19
Letnik: Letn. 31
Zvezek: št. 2
Čas izdaje: jun. 2011
ID: 1727878