Hanna Budasheva (Avtor), Mohanachandran Nair Sindhu Swapna (Avtor), Sankaranarayana Iyer Sankararaman (Avtor), Dorota Korte Kobylinska (Avtor)

Povzetek

Sample characterization by transverse photothermal beam deflection spectrometry in skimming configuration

Ključne besede

photothermal techniques;beam deflection spectrometry;material characterization;

Podatki

Jezik: Angleški jezik
Leto izida:
Tipologija: 1.02 - Pregledni znanstveni članek
Organizacija: UNG - Univerza v Novi Gorici
UDK: 54
COBISS: 155461891 Povezava se bo odprla v novem oknu
ISSN: 0021-8979
Št. ogledov: 579
Št. prenosov: 0
Ocena: 0 (0 glasov)
Metapodatki: JSON JSON-RDF JSON-LD TURTLE N-TRIPLES XML RDFA MICRODATA DC-XML DC-RDF RDF

Ostali podatki

Vrsta dela (COBISS): Delo ni kategorizirano
Strani: str. 1-24
Letnik: ǂVol. ǂ133
Zvezek: ǂissue ǂ21, [article no.] 211101
Čas izdaje: Jun. 2023
DOI: 10.1063/5.0148079
ID: 21815621