Iskalni niz:
išči po
išči po
išči po
išči po
Vrsta gradiva:
Jezik:
Št. zadetkov: 12
Trideset let spektroskopije Augerjevih elektronov v Sloveniji
Anton Zalar
Strokovni članek
Oznake:
Leto: 2007 Vir: dLib.si Digitalna knjižnica Slovenije
Zmogljivosti rentgenskega fotoelektronskega spektrometra (XPS) na institutu "Jožef Stefan"
Janez Kovač, Anton Zalar
Strokovni članek
Oznake:
Leto: 2005 Vir: dLib.si Digitalna knjižnica Slovenije
Rekombinacija atomov vodika na površini polikristalinskega bakra
Miran Mozetič, Miha Kveder, Anton Zalar, Matija Drobnič, Anton Paulin
Strokovni članek
Oznake: rekombinacija;atomarni vodik;kemisorpcija;
Opisali smo rekombinacijo atomov vodika na kovinskih površinah v klasični in kvantnomehanski sliki. Izračunali smo verjetnost za rekombinacijo atomov vodika na površini polikristalnega bakra. Curek atomov vodika, ki pade pravokotno na bakreno površino, smo aproksimirali z kvantnomehanskim ravnim val ...
Leto: 1994 Vir: dLib.si Digitalna knjižnica Slovenije
Karakterizacija krom-nitridne prevleke, nanesene na nerjavno jeklo s postopkom IBAD
Anton Zalar, Janez Kovač, Borut Praček, Maik Kunert
Pregledni znanstveni članek
Oznake: tanke plasti;trda prevleka;CrN;AES;XPS;AFM;nanotrdota;thin films;CrN haard coatings;AES;XPS;AFM;nanohardness;
Krom-nitridne prevleke, nanesene na podlage iz nerjavnega jekla, omogočijo, da so površine trde in obrabno obstojne. V okviru skupnega raziskovalnega programa "Modifikacija materialov z ionsko obdelavo za industrijsko uporabo", ki ga je organizirala Mednarodna agencija za atomsko energijo (IAEA), je ...
Leto: 1999 Vir: dLib.si Digitalna knjižnica Slovenije
Študij pojavov med toplotno obdelavo tankih plasti Ni/Si na osnovi sprotnih meritev električne upornosti
Andrej Cvelbar, Peter Panjan, Boris Navinšek, Anton Zalar
Objavljeni znanstveni prispevek na konferenci
Oznake: tanke plasti;električna upornost;nikelj;silicij;reakcije v trdni snovi;AES profilna analiza;XRD;
Tankim plastem silicija in niklja smo med segrevanjem s stalno hitrostjo 3°C/min v cevni peči v pretoku argona in-situ (sproti) merili električno upornost. Opazovali smo odvisnost poteka reakcij od začetnega razmerja obeh elementov in od debeline plasti niklja. Po toplotni obdelavi smo vzorce analiz ...
Leto: 1996 Vir: dLib.si Digitalna knjižnica Slovenije
Določanje koncentracijskih profilov in difuzijskih parametrov v tankoplastnih strukturah s profilno analizo in modelom MRI
Miha Čekada, Peter Panjan, Matjaž Panjan, Anton Zalar, Janez Kovač
Strokovni članek
Oznake:
Leto: 2008 Vir: dLib.si Digitalna knjižnica Slovenije
Meritve električne upornosti v tankih plasteh Cr med oksidacijo
Andrej Cvelbar, Peter Panjan, Boris Navinšek, Tomo Mrdjen, Anton Zalar
Objavljeni znanstveni prispevek na konferenci
Oznake: tanke plasti;krom;električna upornost;oksidacija;AES profilna analiza;
Oksidacijo tankih plasti Cr med gretjem pri 700°C v kisiku smo sproti opazovali s spremembo električne upornosti. Augerjevi globinski prerezi ohlajenih vzorcev se dobro ujemajo z debelinami oksida, izračunanimi iz meritev upornosti. Oksidacija poteka parabolično s konstanto 2,3 x ▫$10^{-13}cm^2/s$▫.
Leto: 1995 Vir: dLib.si Digitalna knjižnica Slovenije
Deposition and characterization of Ti[sub[(0.5) Al[sub](0.5)N/CrN multilayer coatings sputtered at low temperature
Peter Panjan, Miha Čekada, Darja Kek-Merl, Igor Urankar, Anton Zalar
Izvirni znanstveni članek
Oznake:
Deposition and characterization of Tisub(0.5) Alsub(0.5)N/CrN multilayer coatings sputtered at low temperature
Leto: 2003 Vir: dLib.si Digitalna knjižnica Slovenije
Študij reakcij v večplastnih strukturah
Peter Panjan, Andrej Cvelbar, Boris Navinšek, Primož Pelicon, Miloš Budnar, Benjamin Zorko, Maja Remškar, Goran Dražić, Anton Zalar
Objavljeni znanstveni prispevek na konferenci
Oznake: tanke plasti;večplastne strukture;reakcije na mejah;kovinski silicidi;AES profilna analiza;XRD;RBS;XTEM;
V prispevku so predstavljeni rezultati meritev na večplastnih strukturah Ni/Si,Ti/Si, Mo/Si in Ni/Cr/Si, ki smo jih pripravili z naprševanjem. Za podlage smo uporabili silicijeve rezine (100) in visoko polirano keramiko. Vzorce smo segrevali v cevni peči, v inertni atmosferi od sobne temperature do ...
Leto: 1995 Vir: dLib.si Digitalna knjižnica Slovenije
Spektroskopija tankih plasti z Rutherfordovim povratnim sipanjem (RBS)
Peter Panjan, Žiga Šmit, Andrej Cvelbar, Vladimir Batagelj, Miloš Budnar, Primož Pelicon, Boris Navinšek, Goran Dražić, Maja Remškar, Anton Zalar, B. Praček
Strokovni članek
Oznake: tanke plasti;spektroskopija;metode;
Leto: 1993 Vir: dLib.si Digitalna knjižnica Slovenije
Št. zadetkov: 12
Ključne besede:
Leto izdaje:
Avtorji:
Repozitorij:
Tipologija:
Jezik: