Iskalni niz:
išči po
išči po
išči po
išči po
Vrsta gradiva:
Jezik:
Št. zadetkov: 1
Pregledni znanstveni članek
Oznake: scanning photoemission microscopy;graphene;GaAs;nanowires;Fermi Level;Mott-Hubbard transition;
Scanning Photoelectron Spectro‐Microscopy: A Modern Tool for the Study of Materials at the Nanoscale
Leto: 2018 Vir: Repozitorij Univerze v Novi Gorici (RUNG)
Št. zadetkov: 1
Ključne besede:
Leto izdaje:
Avtorji:
Repozitorij:
Tipologija:
Jezik: