Iskalni niz:
išči po
išči po
išči po
išči po
Vrsta gradiva:
Jezik:
Št. zadetkov: 4
Napake na valjih za hladno valjanje
Henrik Kaker
Strokovni članek
Oznake: valji;napake;hladno valjanje;
Leto: 1994 Vir: dLib.si Digitalna knjižnica Slovenije
Monte Carlo simulacija v raster elektronski mikroskopiji
Henrik Kaker
Drugi članki ali sestavki
Oznake: simulacija;Monte Carlo metoda;elektronska mikroskopija;elektroni;interakcije;sevanje;rentgensko sevanje;
Leto: 1992 Vir: dLib.si Digitalna knjižnica Slovenije
Mikroanaliza faz v jeklih in nikljevih zlitinah s povratno sipanimi elektroni v vrstičnem elektronskem mikroskopu
Henrik Kaker, Velibor Marinković
Izvirni znanstveni članek
Oznake: vrstični elektronski mikroskop;povratno sipani elektroni;koeficient povratanega sipanja;mikroanaliza;faze v jeklih in nikljevih zlitinah;
V članku obravnavamo uporabo povratno sipanih elektronov v vrstičnem elektronskem mikroskopu binarnih in psevdo-binarnih faz v jeklih in nikljevih zlitinah. Z meritvijo koeficienta povratnega sipanja in v kombinaciji z rezultati mikroanalize EDS je možno identificirati faze z lahkimi elementi, kot s ...
Leto: 1998 Vir: dLib.si Digitalna knjižnica Slovenije
Meritev debeline tankih plasti v SEM s signalom povratno sipanih elektronov
Henrik Kaker, Alojz Buhvald, Vlado Perovnik
Pregledni znanstveni članek
Oznake: vrstični elektronski mikroskop;povratno sipani elektroni;tanke plasti;simulacija Monte Carlo;
Osnova analize s povratno sipanimi elektroni (PSE) v vrstičnem elektronskem mikroskopu (SEM) je monotono naraščanje koeficienta povratnega sipanja z atomskim številom vzorca. Kot praktičen primer analize s PSE smo merili debelino vakuumsko napaarjenih tankih plasti Cu na podlagi iz 0,1 mm debele PET ...
Leto: 2000 Vir: dLib.si Digitalna knjižnica Slovenije
Št. zadetkov: 4
Ključne besede:
Leto izdaje:
Avtorji:
Repozitorij:
Tipologija:
Jezik: