Iskalni niz:
išči po
išči po
išči po
išči po
Vrsta gradiva:
Jezik:
Št. zadetkov: 118
Surface characterization of polymers by XPS and SIMS techniques
Janez Kovač
Izvirni znanstveni članek
Oznake: X-ray photoelectron spectroscopy;XPS;TOF-SIMS;polymers;cotton;
Polymers are very often subjects of different surface treatments. To understand and control the basic processes during surfaces modifications, analyses with advanced analytical techniques are required. We present two of such state of the art techniques, X-ray photoelectron spectroscopy - XPS and sec ...
Leto: 2011 Vir: dLib.si Digitalna knjižnica Slovenije
V slovo prof. dr. Antonu Zalarju (1943-2009)
Janez Kovač
Drugi članki ali sestavki
Oznake:
Leto: 2009 Vir: dLib.si Digitalna knjižnica Slovenije
Fazna meja kovina/polprevodnik
Janez Kovač
Strokovni članek
Oznake: fazne meje;fazna meja Ag/Si(111);spoj kovina/polprevodnik;fotoelektronska spektromikroskopija;
Elektronske lastnosti spoja kovina/polprevodnik so odvisne od naravne faze meje med materialoma. Z metodami za preiskavo površin lahko preiskujemo modelno fazno mejo, kot je tanka adsorbirana plast kovine, kar pomeni začetno fazo nastajajna spoja kovina/polprevodnik. Ta mikroskopski način je lahko k ...
Leto: 2001 Vir: dLib.si Digitalna knjižnica Slovenije
Rentgenska fotoelektronska spektroskopija z visoko lateralno ločljivostjo - mikro XPS
Janez Kovač
Izvirni znanstveni članek
Oznake: rentgenska elektronska mikroskopija;rasterski fotoemisijski mikroskop;
The phenomena on the microscopic scale have been recognized to play an important role in the field of surface and interface engineering and thin film technologies. The lack of a suitable technique to characterize these phenomena forces the development of different approaches how to obtain high spati ...
Leto: 1998 Vir: dLib.si Digitalna knjižnica Slovenije
Zmogljivosti rentgenskega fotoelektronskega spektrometra (XPS) na institutu "Jožef Stefan"
Janez Kovač, Anton Zalar
Strokovni članek
Oznake:
Leto: 2005 Vir: dLib.si Digitalna knjižnica Slovenije
AFM study of roughness development during ToF-SIMS depth profiling of multilayers with a Cs[sup]+ ion beam in a H[sub]2 atmosphere
Jernej Ekar, Janez Kovač
Izvirni znanstveni članek
Oznake:
Leto: 2022 Vir: Institut Jožef Stefan (IJS)
Študij mehanizmov vezave molekul BTAH in BTAOH na baker z rentgensko fotoelektronsko spektroskopijo - XPS
Matjaž Finšgar, Janez Kovač, Ingrid Milošev
Pregledni znanstveni članek
Oznake:
Leto: 2010 Vir: dLib.si Digitalna knjižnica Slovenije
Prof. dr. Alojzij Paulin - osemdesetletnik
Janez Kovač, Andrej Pregelj, Eva Perman
Izvirni znanstveni članek
Oznake: obletnice;biografije;
Leto: 2010 Vir: dLib.si Digitalna knjižnica Slovenije
Pojavi na talilnem elementu varovalke v talilni fazi izklopa
Martin Bizjak, Janez Kovač, Mitja Koprivšek
Strokovni članek
Oznake: izkop toka;talilni element;talilna faza;raztapljanje v nizkotaljivi zlitini;metalografija;binarni fazni diagram;Cu-Sn;
Na talilnem vložku varovalke za nazivni tok 63 A je bil izveden preskus izklopa toka 100 A. V teh razmerah pride do prekinitve toka v varovalki med talilno fazo, ko se na talilnem elementu stalijo perforirani segment na prekinitvenih mestih, kjer je nanesena plast nizkotaljive zlitine. Po preskusu j ...
Leto: 2004 Vir: dLib.si Digitalna knjižnica Slovenije
Izračun koeficienta razprševanja
Alenka Vesel, Miran Mozetič, Janez Kovač
Izvirni znanstveni članek
Oznake: razprševanje;trkovne kaskade;pozitivni ioni;računalniška simulacija;
Obstreljevanje površine z energijskimi ioni povzroči razprševanje atomov, to je odnašanje (erozija) površine trdne snovi. Razprševanje povzročajo tako trki vpadnih ionov z atomi na površini trdne snovi kot tudi medsebojni trki atomov trdne snovi (trkovne kaskade). Trkovne kaskade se razširjajo v vse ...
Leto: 1998 Vir: dLib.si Digitalna knjižnica Slovenije
Št. zadetkov: 118
Ključne besede:
Leto izdaje:
Avtorji:
Repozitorij:
Tipologija:
Jezik: