Iskalni niz:
išči po
išči po
išči po
išči po
Vrsta gradiva:
Jezik:
Št. zadetkov: 1
Using a FIB prepare Al(OH)3 samples for the TEM
Irena Nikolic, Velimir Radmilovic, Toll Z. Sholklapper, Dragoljub Blecic
Strokovni članek
Oznake: focused ion beam;Al(OH)3;milling;deposition;sample preparation;
One of the basic applications of a focused ion beam (FIB) tool is the preparation of samples for transmission electron microscopy (TEM) analysis. A dual-beam FIB system combines miltiple experimental systems within the same chamber and the combinations of different techniques can be accommodated by ...
Leto: 2008 Vir: dLib.si Digitalna knjižnica Slovenije
Št. zadetkov: 1
Ključne besede:
Leto izdaje:
Avtorji:
Repozitorij:
Tipologija:
Jezik: