S. Soumya (Avtor), Mohanachandran Nair Sindhu Swapna (Avtor), Vimal Raj (Avtor), V. P. Mahadevan Pillai (Avtor), Sankaranarayana Iyer Sankararaman (Avtor)

Povzetek

Fractal analysis as a potential tool for surface morphology of thin films

Ključne besede

fractals;thin films;AFM;surface morphology;

Podatki

Jezik: Angleški jezik
Leto izida:
Tipologija: 1.01 - Izvirni znanstveni članek
Organizacija: UNG - Univerza v Novi Gorici
UDK: 54
COBISS: 113880067 Povezava se bo odprla v novem oknu
ISSN: 2190-5444
Št. ogledov: 473
Št. prenosov: 0
Ocena: 0 (0 glasov)
Metapodatki: JSON JSON-RDF JSON-LD TURTLE N-TRIPLES XML RDFA MICRODATA DC-XML DC-RDF RDF

Ostali podatki

URN: URN:SI:UNG
Vrsta dela (COBISS): Delo ni kategorizirano
Strani: str. 1-7
Letnik: ǂVol. ǂ132
Zvezek: ǂiss. ǂ12
Čas izdaje: 2017
DOI: 10.1140/epjp/i2017-11826-8
ID: 15832551