S. Soumya (Avtor), Mohanachandran Nair Sindhu Swapna (Avtor), Sankaranarayana Iyer Sankararaman (Avtor)

Povzetek

Nondestructive Evaluation of Surface Roughness of Thin Films through Fractal Analysis, S Soumya

Ključne besede

nondestructive evaluation;surface roughness;thin films;fractal analysis;

Podatki

Jezik: Angleški jezik
Leto izida:
Tipologija: 1.01 - Izvirni znanstveni članek
Organizacija: UNG - Univerza v Novi Gorici
UDK: 54
COBISS: 113934083 Povezava se bo odprla v novem oknu
ISSN: 0973-631X
Št. ogledov: 466
Št. prenosov: 0
Ocena: 0 (0 glasov)
Metapodatki: JSON JSON-RDF JSON-LD TURTLE N-TRIPLES XML RDFA MICRODATA DC-XML DC-RDF RDF

Ostali podatki

URN: URN:SI:UNG
Vrsta dela (COBISS): Delo ni kategorizirano
Strani: str. 255-259
Letnik: ǂVol. ǂ11
Zvezek: ǂno. ǂ3
Čas izdaje: 2017
ID: 15832566