Franc Zupanič (Avtor)

Povzetek

Uporaba mikroposnetkov z odbitimi elektroni pri identifikaciji faz

Ključne besede

odbiti elektroni;koeficient povratnega sipanja elektronov;vrstična elektronska mikroskopija;SEM;karakterizacija;

Podatki

Jezik: Slovenski jezik
Leto izida:
Tipologija: 1.01 - Izvirni znanstveni članek
Organizacija: UM FS - Fakulteta za strojništvo
Založnik: Društvo za vakuumsko tehniko Slovenije
UDK: 620.187.2
COBISS: 14841622 Povezava se bo odprla v novem oknu
ISSN: 0351-9716
Matična publikacija: Vakuumist
Št. ogledov: 359
Št. prenosov: 29
Ocena: 0 (0 glasov)
Metapodatki: JSON JSON-RDF JSON-LD TURTLE N-TRIPLES XML RDFA MICRODATA DC-XML DC-RDF RDF

Ostali podatki

Sekundarni jezik: Angleški jezik
Sekundarni naslov: Application of backstattered-electron micrographs for phase identification
Sekundarne ključne besede: backscattered electrons;backscattering coefficient;scanning electron microscopy;SEM;characterization;
URN: URN:NBN:SI:doc-IO9DQFI7
Vrsta dela (COBISS): Delo ni kategorizirano
Strani: str. 4-7
Letnik: Letn. 31
Zvezek: št. 1
Čas izdaje: mar. 2011
ID: 1728656