Iskalni niz:
išči po
išči po
išči po
išči po
Vrsta gradiva:
Jezik:
Št. zadetkov: 1
Analiza površine vlaken z mikroskopijo atomskih sil (AFM)
Lidija Tušek, Simona Strnad, Karin Stana-Kleinschek, Volker Ribitsch, Carsten Werner
Izvirni znanstveni članek
Oznake: mikroskop atomskih sil;obdelava slik;površinska analiza;struktura;vlakna;PA6;
Atomic force microscopy (AFM) is one of the most modern types of microscopy enabling nanoscale imaging of both conducting and insulating surfaces. It was developed by the Nobel prize winners in physics, Binning and Rober. Since its invention in 1986, AFM has become useful in industry and laboratory ...
Leto: 2000 Vir: Fakulteta za strojništvo (UM FS)
Št. zadetkov: 1
Ključne besede:
Leto izdaje:
Avtorji:
Repozitorij:
Tipologija:
Jezik: