Iskalni niz:
išči po
išči po
išči po
išči po
Vrsta gradiva:
Jezik:
Št. zadetkov: 1
Magistrsko delo
Oznake: TTL;NIM;ECL;LVDS;FPGA;VHDL;DDS;
Pri testiranju detektorjev osnovnih delcev se uporabljajo naprave, ki komunicirajo prek različnih logičnih nivojev. Če želimo med seboj povezati napravi, ki komunicirata z različnima logičnima nivojema, je treba med njiju vključiti še prevajalnik. V sklopu te magistrske naloge je bila na Inštit ...
Leto: 2017 Vir: Fakulteta za elektrotehniko (UL FE)
Št. zadetkov: 1
Ključne besede:
Leto izdaje:
Avtorji:
Repozitorij:
Tipologija:
Jezik: